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半导体前道检测、 半导体量检、 8寸12寸晶圆检测、 膜厚测量仪、 晶圆元素浓度测量、

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盖泽华矽半导体科技（上海）有限公司专注生产研发半导体量检设备,设备可为4寸5寸6寸8寸12寸晶圆检测.产品包含,晶圆膜厚测量仪、晶圆元素浓度测量机台等设备.为半导体前道检测应用场景提供了可以替换进口的国产化解决方案.联系电话400-026-0880.

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